Imec pone en marcha un Centro de Soluciones de Metrología Avanzada
Imec ha puesto en marcha oficialmente el Centro de Soluciones de Metrología Avanzada (CAMS, por sus siglas en inglés). Este centro se basa en la amplia experiencia de Imec para ofrecer un servicio comercial de alta calidad de microscopía SSRM (scanning spreading resistance microscopy) y una amplia gama de productos y soluciones para permitir y facilitar las mediciones eléctricas de microscopía de fuerza atómica.
La microscopía SSRM –una técnica inventada en Imec– es una técnica basada en la microscopía de fuerza atómica (AFM) eléctrica que proporciona distribuciones de transporte cuantitativo de alta resolución en estructuras semiconductoras en 1D, 2D y 3D, como películas delgadas, células solares, MOSFETs, FinFETs, TFETs, etc. Los recientes avances en resolución y la extensión a otros materiales semiconductores (SiGe, Ge, InGaAs, INP, etc.) han originado un fuerte y creciente interés en la comunidad de semiconductores por la caracterización de estructuras avanzadas. Para permitir que toda la comunidad se beneficie de estos avances, Imec ofrece ahora un servicio comercial de SSRM a clientes externos a través de su Centro de Soluciones de Metrología Avanzada, creado recientemente.
Fuente: http://www.nanowerk.com/news/newsid=23768.php
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